Difratômetro de Raio-X de alta resolução
Difratômetro de Raio-X de alta resolução - DX-2800
Os difratômetros de raios X multifuncionais combinados e os difratômetros de raios-X de alta resolução são amplamente utilizados em vários campos de análise estrutural de diversos materiais. Os materiais analisados incluem:
- Materiais metálicos,
- Materiais inorgânicos,
- Materiais compostos,
- Materiais orgânicos,
- Nanomateriais
- Materiais supercondutores.
Os estados do material que podem ser analisados incluem:
- Amostras de pó,
- Amostras em massa,
- Amostras de filmes
- Micro-amostras de microrregiões.
Amplamente utilizado em minerais de:
- Argila,
- Materiais de construção de cimento,
- Poeira ambiental,
- Produtos químicos,
- Produtos farmacêuticos,
- Amianto, rochas,
- Minerais e outros campos de pesquisa.
O difratômetro de raios-X de alta resolução é projetado para estudar com precisão a estrutura do material e pode medir com precisão o ângulo de difração da amostra, estabelecendo uma base sólida para análise de fase precisa e confiável e resultados de análise estrutural.
O difratômetro de raios-X de alta resolução é equipado com uma fonte de raios X de alta estabilidade e um contador de arranjo de semicondutores de alto desempenho para obter o espectro de difração mais preciso em um período relativamente curto de tempo.
O ângulo de difração da amostra é obtido diretamente pelo incremento absoluto de 3,6 milhões de redes de linhas, o que pode evitar a influência de outros componentes do goniômetro no ângulo de difração e garantir que o instrumento sempre obtenha uma posição de pico precisa dentro da vida útil.